2025-12-25大豆表型检测仪
产品简介：大豆表型检测仪可以测量大豆夹角，茎粗，总粒数和千粒重等指标，是一款利用图象来分析大豆表型相关性状的检测系统，具有成像清晰，数粒准确的特点，广泛适用于各农科院，高校，育种公司，种子站的大豆研究。
产品型号：TPD-BX-1
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产品简介：大豆表型检测仪可以测量大豆夹角，茎粗，总粒数和千粒重等指标，是一款利用图象来分析大豆表型相关性状的检测系统，具有成像清晰，数粒准确的特点，广泛适用于各农科院，高校，育种公司，种子站的大豆研究。
产品型号：TPD-BX-1
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产品简介：玉米表型检测仪系统可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标，是研究玉米表型参数中的产量相关性状参数的检测工具。
产品型号：TPY-BX-1
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产品简介：小麦表型检测系统利用图像识别和深度学习技术，通过轮廓分析、形态学分析、模式分析学习等，提取相关有效特征，采用先进的深度神经网络方法，在小麦大数据库建立基础上，建立高精度识别模型，完成小麦表型性状的测量。该仪器可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标，这些参数指标在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种研究中发挥着至关重要的作用。
产品型号：TPM-BX-1
产品简介：水稻表型检测仪可测量水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、穗长、水稻剑叶夹角、茎粗、水稻株高、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗对应的穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标，这些表型参数为水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。
产品型号：TPS-BX-1
产品简介：玉米株高测量仪是一种便携、快捷的玉米株高测量仪器。基于机器视觉技术，利用手机获取玉米株高测量尺图像，通过算法现场分析，实时获取玉米株高数据。仪器带数据管理云平台和APP，可通过电脑网页或手机查看数据。
产品型号：TPYM-G-1
产品简介：植物图像分析仪系统是基于图像识别技术，专业用于植物离体洗根后的根系分析和植物叶片分析，可以分析植物根系整体参数、颜色分析参数、连接分析参数、根瘤参数，还可以生成叶片形态参数，病斑、虫损参数，包括残叶分析和叶色分析。
产品型号：TP-PAS-1
产品简介：植物株高测量仪可实现快速、高效的对水稻、小麦、油菜、玉米等作物的株高测量，同时可满足对玉米穗位的测量。产品集测量与记录于一体，在测量的同时便完成了数据的记录，数据可通过U盘导出，方便数据整理与分析。
产品型号：TPDM-G-1
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产品简介：植物光合作用测定仪用于检测人工气候室、温室、大棚、大田等植物的活体叶片光合作用参数，可测定进气温湿度、叶室温湿度、空气CO2浓度、光合有效辐射强度、叶面温度、叶片净光合速率、气孔导度、蒸腾速率、胞间CO2浓度、瞬时水分利用率共12项参数。
产品型号：TP-PM-1
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